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阻抗測試儀 IM3570

簡要描述:阻抗測試儀 IM3570實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量基本精度±0.08%的高精度測量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新快照:2021-04-20
  • 訪  問  量:1333

詳細介紹

品牌其他品牌產地類別國產
應用領域電子
microtest

元器件測量儀器(電感、電容、電阻測量)

阻抗分析儀IM3570

 

 

 

  

 

CE標配

GP-IB

GP-IB
標配

GP-IB
標配

RS-232C
 

標配

 

 

           
 

 

1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查

 

阻抗測試儀 IM3570

 

  • 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
  • LCR模式下0.5ms100kHz)的高速測量
  • 基本精度±0.08%的高精度測量
  • 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCRL-Q的測量
  • 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

 

 

阻抗測試儀 IM3570主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。

 

 
 
 

 

基本參數

測量模式

LCRLCR測量),分析儀(掃描測量),連續測量

測量參數

ZYθRsESR)、RpRdc(直流電阻)、XGBCsCpLsLpDtanδ)、Q

測量量程

100mΩ~100MΩ12檔量程(所有參數由Z確定)

顯示范圍

ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp±0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅ZY顯示值
θ±0.000°~999.999°),D±0.000000~9.999999
Q±0.00~99999.99),%±0.0000%~999.9999%

基本精度

Z±0.08%rdg. θ±0.05°

測量頻率

4Hz~5MHz10mHz~100Hz步進)

測量信號電平

V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms1mVrms步進(1MHz以下)
10mV~1Vrms1mVrms步進(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms10μA rms步進(1MHz以下)
10μA~10mA rms10μA rms步進(1.0001MHz以上)

輸出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

顯示

彩色TFT5.7英寸,可設置顯示ON/OFF

測量時間

0.5ms100kHzFAST,顯示OFF,代表值)

測量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏壓測量,比較功能,面板讀取和保存,存儲功能

接口

EXT I/ORS-232CGP-IBUSB通訊,U盤,LAN

電源

AC90~264V50/60Hz

打印

拷貝測量值或屏幕顯示的要點(需用94429593-019446

接口

GP-IBRS-232CEXT.I/O(所有標準)

電源

AC90~264V50/60Hz

體積和重量

330W×119H×307Dmm5.8kg

附件

電源線×1,使用說明書×1,通訊手冊×1

 

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